LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042具有精准的测量技术和简单的操作方法，是的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场迅速的升级。
可定制带系统的涂层测厚
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042利用磁感应法（DIN EN ISO 2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求,是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。

彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。


特点概述:
大图解屏幕48 mm x 24 mm,有背景灯



校准选项
出厂时已校准，立即可用
在未知涂层上校准
零校准
在无涂层的基体上一点和多点校准
在有涂层的基体上校准

校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中，也可以随时调出
可选择的显示模式，以佳形式去完成测量任务
输入和极限监视*
在Windows下有简单的存储读数档案管理
可用的电脑软件STATWIN 2002和EasyExport
统计：
可... [详细介绍]